Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations (Bog, Paperback / softback, Engelsk)

Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations (Bog, Paperback / softback, Engelsk)

Af: Ronald G (Purdue Univ Reifenberger


Forlag: World Scientific Publishing Co Pte Ltd

  • Type: Bog
  • Format: Paperback / softback
  • Sprog: Engelsk Sprog: Engelsk
  • ISBN-13: 9789814630351
  • Udgivelsesdato: 12-11-2015
  • Første udgivelsesår: 2015
  • Serie: Lessons from Nanoscience: A Lecture Notes Series
  • Originalsprog: Singapore
  • Sideantal: 340
  • Indbinding: Paperback / softback
  • Forlag: World Scientific Publishing Co Pte Ltd
  • Sideoplysninger: 340 pages
  • Mål: 155 x 229 x 19

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Alle Kategorier som dette produkt er en del af

  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution.

Læsernes anmeldelser (0)