404 - Siden blev ikke fundet

Der er 1 fejl

  1. Fejlkode: 404 - siden blev ikke fundet

« Tilbage

Fejlkode: 404 - siden blev ikke fundet


Åh nej!
Denne side er ikke længere tilgængelig. Varen, som engang kunne købes her, er fjernet fra vores katalog. Informationen, som du ser her på siden, er en del af vores produktarkiv og er blot en hyldest til den vare, der engang var.


Men vent ...
Vi har heldigvis gemt lidt info, før produktet blev slettet. Du kan stadig finde links til fx forfatter, leverandør, kategorier og serier, samt andet som denne vare har været en del af. Vi håber, at det kan hjælpe dig med at finde en anden udgave af varen eller måske et alternativ.

Quantum Metrology with Photoelectrons: Volume II: Applications and Advances (Bog, Paperback / softback, Engelsk)

Forfatter(e): Paul Hockett


Forlag: Morgan & Claypool Publishers

  • Type: Bog
  • Format: Paperback / softback
  • Sprog: Engelsk Sprog: Engelsk
  • Udgivelsesdato: 20-04-2018
  • Første udgivelsesår: 2018
  • Serie: IOP Concise Physics
  • Originalsprog: United States
  • Sideantal: 125
  • Indbinding: Paperback / softback
  • Forlag: Morgan & Claypool Publishers
  • Sideoplysninger: 125 pages
  • Mål: 180 x 254 x 11
  • ISBN/VNR: 9781681746890
DENNE VARE ER UDSOLGT / UDGÅET
DENNE VARE ER UDSOLGT / UDGÅET

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

VARENS BESKRIVELSE

The increasing availability of photoelectron imaging experiments, along with the increasing sophistication of experimental techniques, and the availability of computational resources for analysis and numerics, has allowed for significant developments in such photoelectron metrology. This volume discusses the fundamental concepts along with recent and emerging applications.