Residual Stress Measurement by X-Ray Diffraction (Bog, Paperback / softback, Engelsk) af SAE International

Residual Stress Measurement by X-Ray Diffraction (Bog, Paperback / softback, Engelsk)

Af: SAE International


Forlag: SAE International

  • Type: Bog
  • Format: Paperback / softback
  • Sprog: Engelsk Sprog: Engelsk
  • ISBN-13: 9780768010695
  • Udgivelsesdato: 28-02-2003
  • Første udgivelsesår: 2003
  • Originalsprog: United States
  • Sideantal: 96
  • Indbinding: Paperback / softback
  • Forlag: SAE International
  • Sideoplysninger: 96 pages
  • Mål: 279 x 229
Status: Mangler pt.
Bemærk: Dette produkt kan pt. ikke købes, men du kan få automatisk besked når/hvis dette produkt er tilgængeligt igen. Alt vi skal bruge er din e-mailadresse.

Produktet kan ikke bestilles.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Alle Kategorier som dette produkt er en del af

  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

This editorial review of J784a is based upon decades of experience in the practical application of x-ray diffraction residual stress measurement methods in thousands of individual applications. J784 is a classic document. It serves as the only recognized standard for residual stress measurement available.

Læsernes anmeldelser (0)