1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Materialeprøvning
  5. Scanning Probe Microscopy of Functional Materials: Nanoscale...

Scanning Probe Microscopy of Functional Materials: Nanoscale Imaging and Spectroscopy

(Bog, Paperback / softback, Engelsk)
Forlag: Springer-Verlag New York Inc.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Materialeprøvning
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

The goal of this book is to provide a general overview of the rapidly developing field of novel scanning probe microscopy (SPM) techniques for characterization of a wide range of functional materials, including complex oxides, biopolymers, and semiconductors.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Springer-Verlag New York Inc.
Type Bog
Format Paperback / softback
Sprog Engelsk
Udgave Softcover reprint of the original 1st ed. 2011
Udgivelsesdato 23-08-2016
Første udgivelsesår 2016
Illustrationer XVIII, 555 p.
Fagredaktør Sergei V. Kalinin, Alexei Gruverman
Originalsprog United States
Sideantal 555
Indbinding Paperback / softback
Forlag Springer-Verlag New York Inc.
Sideoplysninger 555 pages, XVIII, 555 p.
Mål 235 x 155
ISBN-13 / EAN-13 9781493939473