Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (Bog, Hardback, Engelsk)
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Videnskabeligt udstyr, forsøg og teknikker
  5. Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron...

Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction

(Bog, Hardback, Engelsk)
Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction
Forlag: Imperial College Press

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Videnskabeligt udstyr, forsøg og teknikker
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

Presents an introduction to practical aspects of atomic-resolution imaging in aberration-corrected electron microscopy. This book addresses advances in electron optical instrumentation used for ultra-high resolution imaging in materials and nano-science.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Imperial College Press
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgivelsesdato 01-09-2010
Første udgivelsesår 2010
Originalsprog United Kingdom
Sideantal 348
Indbinding Hardback
Forlag Imperial College Press
Sideoplysninger 348 pages
Mål 254 x 175 x 20
ISBN-13 / EAN-13 9781848165366