Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation (Bog, Hardback, Engelsk) af Fangzhou Xia
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Spektralanalyse, spektrokemi,...
  5. Videnskabeligt udstyr, forsøg og teknikker
  6. Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on...

Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation

(Bog, Hardback, Engelsk)
Forfattere: Fangzhou Xia, Ivo W. Rangelow, Kamal Youcef-Toumi
Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Forlag: Springer International Publishing AG

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Spektralanalyse, spektrokemi, massespektrometri Videnskabeligt udstyr, forsøg og teknikker
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Springer International Publishing AG
Forfattere Fangzhou Xia, Ivo W. Rangelow, Kamal Youcef-Toumi
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgave 2024 ed.
Udgivelsesdato 07-02-2024
Første udgivelsesår 2024
Illustrationer 125 Illustrations, color; 13 Illustrations, black and white
Originalsprog Switzerland
Sideantal 366
Indbinding Hardback
Forlag Springer International Publishing AG
Sideoplysninger 366 pages, 125 Illustrations, color; 13 Illustrations, black and white
Mål 235 x 155
ISBN-13 / EAN-13 9783031442322