Applied Scanning Probe Methods VIII: Scanning Probe Microscopy Techniques (Bog, Hardback, Engelsk)
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Videnskabeligt udstyr, forsøg og teknikker
  5. Nanoteknologi
  6. Applied Scanning Probe Methods VIII: Scanning Probe Microscopy...

Applied Scanning Probe Methods VIII: Scanning Probe Microscopy Techniques

(Bog, Hardback, Engelsk)
Forlag: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Nanoteknologi Videnskabeligt udstyr, forsøg og teknikker
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

The success of the Springer Series Applied Scanning Probe Methods I–VII and the rapidly expanding activities in scanning probe development and applications worldwide made it a natural step to collect further speci c results in the elds of development of scanning probe microscopy techniques (Vol.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgave 2008 ed.
Udgivelsesdato 10-01-2008
Første udgivelsesår 2008
Serie NanoScience and Technology
Illustrationer LIX, 465 p.
Fagredaktør Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori
Originalsprog Germany
Sideantal 465
Indbinding Hardback
Forlag Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Sideoplysninger 465 pages, LIX, 465 p.
Mål 235 x 155
ISBN-13 / EAN-13 9783540740797