Bemærk: Kan ikke leveres før jul.
Forventes på lager: 11-06-2014
This book covers all facets of atom probe microscopy—including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography. Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels.
| Forlag | Springer-Verlag New York Inc. |
| Forfattere | Baptiste Gault, Michael P. Moody, Julie M. Cairney, Simon P. Ringer |
| Type | Bog |
| Format | Paperback / softback |
| Sprog | Engelsk |
| Udgave | 2012 ed. |
| Udgivelsesdato | 11-06-2014 |
| Første udgivelsesår | 2014 |
| Serie | Springer Series in Materials Science |
| Illustrationer | XXIV, 396 p. |
| Originalsprog | United States |
| Sideantal | 396 |
| Indbinding | Paperback / softback |
| Forlag | Springer-Verlag New York Inc. |
| Sideoplysninger | 396 pages, XXIV, 396 p. |
| Mål | 155 x 233 x 28 |
| ISBN-13 / EAN-13 | 9781489989390 |