Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy (Bog, Hardback, Engelsk) af M.L Jenkins
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Videnskabeligt udstyr, forsøg og teknikker
  5. Materialelære
  6. Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron...

Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy

(Bog, Hardback, Engelsk)
Forfattere: M.L Jenkins, M.A Kirk
Forlag: Taylor & Francis Ltd

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Materialelære Videnskabeligt udstyr, forsøg og teknikker
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

Details the electron microscopy methods used to investigate complex and fine-scale microstructures, such as those produced by fast-particle irradiation of metals or ion implantation of semiconductors. This book also focuses on the methods used to characterize small point-defect clusters, such as dislocation loops.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Taylor & Francis Ltd
Forfattere M.L Jenkins, M.A Kirk
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgivelsesdato 21-11-2000
Første udgivelsesår 2000
Serie Series in Microscopy in Materials Science
Originalsprog United Kingdom
Sideantal 234
Indbinding Hardback
Forlag Taylor & Francis Ltd
Sideoplysninger 234 pages
Mål 234 x 156
ISBN-13 / EAN-13 9780750307482