CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume ... (Bog, Hardback, Engelsk)
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Materialelære
  5. CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and...

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

(Bog, Hardback, Engelsk)
CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Forlag: Materials Research Society

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Materialelære
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Materials Research Society
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgivelsesdato 19-11-2009
Første udgivelsesår 2009
Serie MRS Proceedings
Fagredaktør Alexander A. (University of Texas Demkov, Bill Taylor, H. Rusty (Texas A & M University) Harris, Jeffery W. Butterbaugh, Willy Rachmady
Originalsprog United States
Sideantal 194
Indbinding Hardback
Forlag Materials Research Society
Sideoplysninger 194 pages
Mål 236 x 160 x 14
ISBN-13 / EAN-13 9781605111285