Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics (Bog, Paperback / softback, Engelsk)
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Spektralanalyse, spektrokemi,...
  5. Materialeprøvning
  6. Elektronisk udstyr og materialer
  7. Nanoteknologi
  8. Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

(Bog, Paperback / softback, Engelsk)
Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
Forlag: Springer Nature Switzerland AG

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Elektronisk udstyr og materialer Materialeprøvning Nanoteknologi Spektralanalyse, spektrokemi, massespektrometri
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Springer Nature Switzerland AG
Type Bog
Format Paperback / softback
Sprog Engelsk
Udgave 2019 ed.
Udgivelsesdato 25-08-2020
Første udgivelsesår 2020
Serie NanoScience and Technology
Illustrationer 230 Illustrations, color; 26 Illustrations, black and white; XX, 408 p. 256 illus., 230 illus. in color.
Fagredaktør Umberto Celano
Originalsprog Switzerland
Sideantal 408
Indbinding Paperback / softback
Forlag Springer Nature Switzerland AG
Sideoplysninger 408 pages, 230 Illustrations, color; 26 Illustrations, black and white; XX, 408 p. 256 illus., 230 i
Mål 235 x 155
ISBN-13 / EAN-13 9783030156145