Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electr... (Bog, Paperback / softback, Engelsk)
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Elektronik: kredse og komponenter
  5. Dataarkitektur og logisk design
  6. Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and...

Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS

(Bog, Paperback / softback, Engelsk)
Forfattere: Gracieli Posser, Sachin S. Sapatnekar, Ricardo Reis
Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Forlag: Springer International Publishing AG

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Dataarkitektur og logisk design Elektronik: kredse og komponenter
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Springer International Publishing AG
Forfattere Gracieli Posser, Sachin S. Sapatnekar, Ricardo Reis
Type Bog
Format Paperback / softback
Sprog Engelsk
Udgave Softcover reprint of the original 1st ed. 2017
Udgivelsesdato 05-07-2018
Første udgivelsesår 2018
Illustrationer 69 Illustrations, color; 3 Illustrations, black and white; XX, 118 p. 72 illus., 69 illus. in color.
Originalsprog Switzerland
Sideantal 118
Indbinding Paperback / softback
Forlag Springer International Publishing AG
Sideoplysninger 118 pages, 69 Illustrations, color; 3 Illustrations, black and white; XX, 118 p. 72 illus., 69 illus
Mål 235 x 155
ISBN-13 / EAN-13 9783319840413