Bemærk: Kan ikke leveres før jul.
Forventes på lager: 12-08-2009
Providing the fundamental basis for electron backscatter diffraction in materials science, this book analyzes the current state of both hardware and software, and gives examples of applications of electron backscatter diffraction to a wide-range of materials.
| Forlag | Springer-Verlag New York Inc. |
| Type | Bog |
| Format | Hardback |
| Sprog | Engelsk |
| Udgave | 2nd ed. 2009 |
| Udgivelsesdato | 12-08-2009 |
| Første udgivelsesår | 2009 |
| Illustrationer | XXII, 403 p. |
| Fagredaktør | Adam J. Schwartz, Mukul Kumar, Brent L. Adams, David P. Field |
| Originalsprog | United States |
| Sideantal | 403 |
| Indbinding | Hardback |
| Forlag | Springer-Verlag New York Inc. |
| Sideoplysninger | 403 pages, XXII, 403 p. |
| Mål | 267 x 190 x 3 |
| ISBN-13 / EAN-13 | 9780387881355 |