Bemærk: Kan ikke leveres før jul.
Forventes på lager: 10-12-2008
Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly;
| Forlag | Springer-Verlag New York Inc. |
| Forfattere | Kai-hui Chang, Igor L. Markov, Valeria Bertacco |
| Type | Bog |
| Format | Hardback |
| Sprog | Engelsk |
| Udgave | 2009 ed. |
| Udgivelsesdato | 10-12-2008 |
| Første udgivelsesår | 2008 |
| Serie | Lecture Notes in Electrical Engineering |
| Illustrationer | XXIV, 200 p. |
| Originalsprog | United States |
| Sideantal | 200 |
| Indbinding | Hardback |
| Forlag | Springer-Verlag New York Inc. |
| Sideoplysninger | 200 pages, XXIV, 200 p. |
| Mål | 235 x 155 |
| ISBN-13 / EAN-13 | 9781402093647 |