Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, D... (Bog, Paperback / softback, Engelsk)
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Kemi
  5. Maskinteknik og materialer
  6. Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film...

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications

(Bog, Paperback / softback, Engelsk)
Forfattere: Andrew T. S. (National University of Singapore Wee, Xinmao Yin, Chi Sin Tang
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications
Forlag: Wiley-VCH Verlag GmbH

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Kemi Maskinteknik og materialer
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Wiley-VCH Verlag GmbH
Forfattere Andrew T. S. (National University of Singapore Wee, Xinmao Yin, Chi Sin Tang
Type Bog
Format Paperback / softback
Sprog Engelsk
Udgivelsesdato 13-04-2022
Første udgivelsesår 2022
Originalsprog Germany
Sideantal 208
Indbinding Paperback / softback
Forlag Wiley-VCH Verlag GmbH
Sideoplysninger 208 pages
Mål 173 x 246 x 11
ISBN-13 / EAN-13 9783527349517