Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (Bog, Hardback, Engelsk)

Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization

(Bog, Hardback, Engelsk)



Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Springer International Publishing AG
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgave 2018 ed.
Udgivelsesdato 19-03-2018
Første udgivelsesår 2018
Serie Springer Series in Surface Sciences
Illustrationer 194 Illustrations, color; 40 Illustrations, black and white; XXIV, 521 p. 234 illus., 194 illus. in color.
Fagredaktør Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel
Originalsprog Switzerland
Sideantal 521
Indbinding Hardback
Forlag Springer International Publishing AG
Sideoplysninger 521 pages, 194 Illustrations, color; 40 Illustrations, black and white; XXIV, 521 p. 234 illus., 194
Mål 167 x 242 x 38
ISBN-13 / EAN-13 9783319756868