Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (Bog, Hardback, Engelsk)
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Spektralanalyse, spektrokemi,...
  5. Videnskabelige standarder, målesystem osv.
  6. Videnskabeligt udstyr, forsøg og teknikker
  7. Andre produktionsteknologier
  8. Materialelære
  9. Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to...

Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization

(Bog, Hardback, Engelsk)
Forlag: Springer International Publishing AG

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Springer International Publishing AG
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgave 2018 ed.
Udgivelsesdato 19-03-2018
Første udgivelsesår 2018
Serie Springer Series in Surface Sciences
Illustrationer 194 Illustrations, color; 40 Illustrations, black and white; XXIV, 521 p. 234 illus., 194 illus. in color.
Fagredaktør Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel
Originalsprog Switzerland
Sideantal 521
Indbinding Hardback
Forlag Springer International Publishing AG
Sideoplysninger 521 pages, 194 Illustrations, color; 40 Illustrations, black and white; XXIV, 521 p. 234 illus., 194
Mål 167 x 242 x 38
ISBN-13 / EAN-13 9783319756868