Measurement and Modeling of Silicon Heterostructure Devices (Bog, Hardback, Engelsk)
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Elektronik: kredse og komponenter
  5. Elektroteknik
  6. Miljøvidenskab, miljøteknik og miljøteknologi
  7. Measurement and Modeling of Silicon Heterostructure Devices

Measurement and Modeling of Silicon Heterostructure Devices

(Bog, Hardback, Engelsk)
Forfatter: John D. (Georgia Institute of Technology) Cressler
Measurement and Modeling of Silicon Heterostructure Devices
Forlag: Taylor & Francis Inc

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Elektronik: kredse og komponenter Elektroteknik Miljøvidenskab, miljøteknik og miljøteknologi
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

Focuses on measurement and modeling of high-speed conductor devices. This book provides experience-based tricks of the trade and the subtle nuances of measuring and modeling. It covers topics including compact modeling using integrated CAD tools and design kits, noise mitigation approaches, Germanium RF designs, and, transmission lines.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Taylor & Francis Inc
Forfatter John D. (Georgia Institute of Technology) Cressler
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgivelsesdato 13-12-2007
Første udgivelsesår 2007
Illustrationer 14 Tables, black and white; 9 Halftones, black and white; 95 Illustrations, black and white
Fagredaktør John D. (Georgia Institute of Technology Cressler
Originalsprog United States
Sideantal 198
Indbinding Hardback
Forlag Taylor & Francis Inc
Sideoplysninger 198 pages, 14 Tables, black and white; 9 Halftones, black and white; 95 Illustrations, black and whi
Mål 189 x 264 x 20
ISBN-13 / EAN-13 9781420066920