Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics (Bog, Hardback, Engelsk)
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Mikrobølgeteknologi
  5. Optik
  6. Nanoteknologi
  7. Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics

Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics

(Bog, Hardback, Engelsk)
Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics
Forlag: Pan Stanford Publishing Pte Ltd

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Mikrobølgeteknologi Nanoteknologi Optik
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Pan Stanford Publishing Pte Ltd
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgivelsesdato 03-10-2016
Første udgivelsesår 2016
Illustrationer 249 Illustrations, color; 452 Illustrations, black and white
Fagredaktør Zhiyong (Intel Corporation Ma, David G. (National Institute of Standards and Technology Seiler
Originalsprog Singapore
Sideantal 1454
Indbinding Hardback
Forlag Pan Stanford Publishing Pte Ltd
Sideoplysninger 1454 pages, 249 Illustrations, color; 452 Illustrations, black and white
Mål 163 x 236 x 54
ISBN-13 / EAN-13 9789814745086