Modern Characterization of Electromagnetic Systems and its Associated Metrology
(Bog, Hardback, Engelsk)
Forlag:
John Wiley & Sons Inc
- Type: Bog
- Format: Hardback
-
Sprog:
Engelsk
- ISBN-13: 9781119076469
- Se flere detaljer ▼
Læsernes anmeldelser (0)
Alle detaljer
| Forlag | John Wiley & Sons Inc |
| Forfattere | Tapan K. Sarkar, Magdalena (Universidad Politecnica de Madrid Salazar-Palma, Ming Da Zhu, Heng Chen |
| Type | Bog |
| Format | Hardback |
| Sprog | Engelsk |
| Udgivelsesdato | 24-08-2021 |
| Første udgivelsesår | 2021 |
| Serie | IEEE Press |
| Originalsprog | United States |
| Sideantal | 720 |
| Indbinding | Hardback |
| Forlag | John Wiley & Sons Inc |
| Sideoplysninger | 720 pages |
| Mål | 488 x 203 x 41 |
| ISBN-13 / EAN-13 | 9781119076469 |