Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Bog, Hardback, Engelsk) af PR Dahoo
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Materialeprøvning
  5. Nanoteknologi
  6. Anvendt optik
  7. Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

(Bog, Hardback, Engelsk)
Forfattere: Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin Dahoo, Philippe (Vedecom Institute Pougnet, Abdelkhalak (Institut National des Sciences Appliquees (INSA-Rouen) El Hami
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Forlag: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Anvendt optik Materialeprøvning Nanoteknologi
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Forfattere Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin Dahoo, Philippe (Vedecom Institute Pougnet, Abdelkhalak (Institut National des Sciences Appliquees (INSA-Rouen) El Hami
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgivelsesdato 12-08-2016
Første udgivelsesår 2016
Originalsprog United Kingdom
Sideantal 320
Indbinding Hardback
Forlag ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Sideoplysninger 320 pages
Mål 241 x 165 x 23
ISBN-13 / EAN-13 9781848219366