Bemærk: Kan ikke leveres før jul.
Forventes på lager: 31-01-2004
This book presents the recent advances in the field of nanoscale science and engineering of ferroelectric thin films. The first part under the title of electrical characterization in nanoscale ferroelectric capacitors starts with Chapter 1, "Testing and characterization of ferroelectric thin film capacitors," written by Dr. I.
| Forlag | Springer-Verlag New York Inc. |
| Type | Bog |
| Format | Hardback |
| Sprog | Engelsk |
| Udgave | 2004 ed. |
| Udgivelsesdato | 31-01-2004 |
| Første udgivelsesår | 2004 |
| Serie | Multifunctional Thin Film Series |
| Illustrationer | XIV, 288 p. |
| Fagredaktør | Seungbum Hong |
| Originalsprog | United States |
| Sideantal | 288 |
| Indbinding | Hardback |
| Forlag | Springer-Verlag New York Inc. |
| Sideoplysninger | 288 pages, XIV, 288 p. |
| Mål | 235 x 155 |
| ISBN-13 / EAN-13 | 9781402076305 |