Probing Crystal Plasticity at the Nanoscales: Synchrotron X-ray Microdiffraction
(Bog, Paperback / softback, Engelsk)
Forlag:
Springer Verlag, Singapore
- Type: Bog
- Format: Paperback / softback
-
Sprog:
Engelsk
- ISBN-13: 9789812873347
- Se flere detaljer ▼
Bemærk: Kan ikke leveres før jul.
Læsernes anmeldelser (0)
Alle detaljer
| Forlag | Springer Verlag, Singapore |
| Forfatter | Arief Suriadi Budiman |
| Type | Bog |
| Format | Paperback / softback |
| Sprog | Engelsk |
| Udgave | 2015 ed. |
| Udgivelsesdato | 16-01-2015 |
| Første udgivelsesår | 2015 |
| Serie | SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology |
| Illustrationer | 52 Illustrations, color; 12 Illustrations, black and white; IX, 118 p. 64 illus., 52 illus. in color. |
| Originalsprog | Singapore |
| Sideantal | 118 |
| Indbinding | Paperback / softback |
| Forlag | Springer Verlag, Singapore |
| Sideoplysninger | 118 pages, 52 Illustrations, color; 12 Illustrations, black and white; IX, 118 p. 64 illus., 52 illu |
| Mål | 235 x 155 |
| ISBN-13 / EAN-13 | 9789812873347 |