Bemærk: Kan ikke leveres før jul.
Forventes på lager: 29-11-2002
Describes a systematic approach to continuous process improvement through process capability studies, on-line and off-line design of experiments and statistical process control in the electronics and semiconductor industries.
| Forlag | John Wiley & Sons Inc |
| Forfattere | Yefim Fasser, Donald Brettner |
| Type | Bog |
| Format | Hardback |
| Sprog | Engelsk |
| Udgave | 2 ed |
| Udgivelsesdato | 29-11-2002 |
| Første udgivelsesår | 2002 |
| Serie | Wiley Series in Systems Engineering and Management |
| Originalsprog | United States |
| Sideantal | 648 |
| Indbinding | Hardback |
| Forlag | John Wiley & Sons Inc |
| Sideoplysninger | 648 pages |
| Mål | 242 x 160 x 34 |
| ISBN-13 / EAN-13 | 9780471209577 |