Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability: Characterization and M... (Bog, Hardback, Engelsk)
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Spektralanalyse, spektrokemi,...
  5. Elektronik: kredse og komponenter
  6. Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability:...

Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability: Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact

(Bog, Hardback, Engelsk)
Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability: Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact
Forlag: Springer Verlag, Singapore

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Elektronik: kredse og komponenter Spektralanalyse, spektrokemi, massespektrometri
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Springer Verlag, Singapore
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgave 2022 ed.
Udgivelsesdato 26-11-2021
Første udgivelsesår 2021
Illustrationer 189 Illustrations, color; 24 Illustrations, black and white; XXIII, 311 p. 213 illus., 189 illus. in color.
Fagredaktør Souvik Mahapatra
Originalsprog Singapore
Sideantal 311
Indbinding Hardback
Forlag Springer Verlag, Singapore
Sideoplysninger 311 pages, 189 Illustrations, color; 24 Illustrations, black and white; XXIII, 311 p. 213 illus., 18
Mål 235 x 155
ISBN-13 / EAN-13 9789811661198