Speckle Metrology (Bog, Hardback, Engelsk) af R.S. Sirohi
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Måling og kalibrering
  5. Optik
  6. Anvendt optik
  7. Speckle Metrology

Speckle Metrology

(Bog, Hardback, Engelsk)
Forfatter: R.S. Sirohi
Speckle Metrology
Forlag: Taylor & Francis Inc

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Anvendt optik Måling og kalibrering Optik
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

Covers speckle metrology and its value as a measuring technique in industry. This book also surveys the origin of speckle displacement and decorrelation, presents procedures for deformation analysis and shape measurement of rough objects, and explains particle image velocimetry (PIV).

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Taylor & Francis Inc
Forfatter R.S. Sirohi
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgivelsesdato 20-05-1993
Første udgivelsesår 1993
Serie Optical Science and Engineering
Fagredaktør Rajpal S. Sirohi
Originalsprog United States
Sideantal 572
Indbinding Hardback
Forlag Taylor & Francis Inc
Serieredaktør Brian J. (University of Rochester Thompson
Sideoplysninger 572 pages
Mål 229 x 152
ISBN-13 / EAN-13 9780824789329