1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Elektronik: kredse og komponenter
  5. Dataarkitektur og logisk design
  6. Computere og hardware
  7. Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits

Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits

(Bog, Paperback / softback, Engelsk)
Forfattere: S. Jayanthy, M.C. Bhuvaneswari
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
Forlag: Springer Verlag, Singapore

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Computere og hardware Dataarkitektur og logisk design Elektronik: kredse og komponenter
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

The book begins with a focus on currently available crosstalk delay models, test generation algorithms for delay faults and crosstalk delay faults, before moving on to deterministic algorithms and simulation-based algorithms used to test crosstalk delay faults.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Springer Verlag, Singapore
Forfattere S. Jayanthy, M.C. Bhuvaneswari
Type Bog
Format Paperback / softback
Sprog Engelsk
Udgave Softcover Reprint of the Original 1st 2019 ed.
Udgivelsesdato 21-12-2018
Første udgivelsesår 2018
Illustrationer 7 Illustrations, color; 42 Illustrations, black and white
Originalsprog Singapore
Sideantal 156
Indbinding Paperback / softback
Forlag Springer Verlag, Singapore
Sideoplysninger 156 pages, 7 Illustrations, color; 42 Illustrations, black and white
Mål 235 x 155
ISBN-13 / EAN-13 9789811347849