VLSI Design and Test for Systems Dependability (Bog, Paperback / softback, Engelsk)
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Elektronik: kredse og komponenter
  5. Tyverialarmer og brandalarmer
  6. Teknisk design
  7. Netværkssikkerhed
  8. Datasikkerhed
  9. VLSI Design and Test for Systems Dependability

VLSI Design and Test for Systems Dependability

(Bog, Paperback / softback, Engelsk)
VLSI Design and Test for Systems Dependability
Forlag: Springer Verlag, Japan

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Datasikkerhed Elektronik: kredse og komponenter Netværkssikkerhed Teknisk design Tyverialarmer og brandalarmer
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems. The book consists of three parts.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Springer Verlag, Japan
Type Bog
Format Paperback / softback
Sprog Engelsk
Udgave Softcover reprint of the original 1st ed. 2019
Udgivelsesdato 26-01-2019
Første udgivelsesår 2019
Illustrationer 352 Illustrations, color; 233 Illustrations, black and white; XVII, 800 p. 585 illus., 352 illus. in color.
Fagredaktør Shojiro Asai
Originalsprog Japan
Sideantal 800
Indbinding Paperback / softback
Forlag Springer Verlag, Japan
Sideoplysninger 800 pages, 352 Illustrations, color; 233 Illustrations, black and white; XVII, 800 p. 585 illus., 35
Mål 235 x 155
ISBN-13 / EAN-13 9784431568636