Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Ap... (Bog, Paperback / softback, Engelsk)
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Laserfysik
  5. Fysisk kemi
  6. Ingeniørvidenskab: generelt
  7. Nanoteknologi
  8. Elektronik teknik
  9. Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy...

Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces

(Bog, Paperback / softback, Engelsk)
Forfatter: Gerd Kaupp
Forlag: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Elektronik teknik Fysisk kemi Ingeniørvidenskab: generelt Laserfysik Nanoteknologi Tværfaglige studier
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in the submicron range down to a lateral resolution of a few nm.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Forfatter Gerd Kaupp
Type Bog
Format Paperback / softback
Sprog Engelsk
Udgave 1st ed. Softcover of orig. ed. 2006
Udgivelsesdato 12-02-2010
Første udgivelsesår 2010
Serie NanoScience and Technology
Illustrationer XII, 292 p.
Originalsprog Germany
Sideantal 292
Indbinding Paperback / softback
Forlag Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Sideoplysninger 292 pages, XII, 292 p.
Mål 235 x 155
ISBN-13 / EAN-13 9783642066634