Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal ... (Bog, Paperback / softback, Engelsk)
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Elektronik: kredse og komponenter
  5. Indbyggede systemer
  6. Dataarkitektur og logisk design
  7. Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation...

Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques

(Bog, Paperback / softback, Engelsk)
Forfattere: Sebastian Huhn, Rolf Drechsler
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques
Forlag: Springer Nature Switzerland AG

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Dataarkitektur og logisk design Elektronik: kredse og komponenter Indbyggede systemer
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Springer Nature Switzerland AG
Forfattere Sebastian Huhn, Rolf Drechsler
Type Bog
Format Paperback / softback
Sprog Engelsk
Udgave 2021 ed.
Udgivelsesdato 20-04-2022
Første udgivelsesår 2022
Illustrationer 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p. 47 illus., 25 illus. in color.
Originalsprog Switzerland
Sideantal 164
Indbinding Paperback / softback
Forlag Springer Nature Switzerland AG
Sideoplysninger 164 pages, 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p. 47 illus., 25 ill
Mål 235 x 155
ISBN-13 / EAN-13 9783030692117