Bemærk: Kan ikke leveres før jul.
Forventes på lager: 29-07-2011
Within the last 30 years, electron energy-loss spectroscopy (EELS) has become a standard analytical technique used in the transmission electron microscope to extract chemical and structural information down to the atomic level.
| Forlag | Springer-Verlag New York Inc. |
| Forfatter | R.F. Egerton |
| Type | Bog |
| Format | Hardback |
| Sprog | Engelsk |
| Udgave | 3rd ed. 2011 |
| Udgivelsesdato | 29-07-2011 |
| Første udgivelsesår | 2011 |
| Illustrationer | XII, 491 p. |
| Originalsprog | United States |
| Sideantal | 491 |
| Indbinding | Hardback |
| Forlag | Springer-Verlag New York Inc. |
| Sideoplysninger | 491 pages, XII, 491 p. |
| Mål | 235 x 155 |
| ISBN-13 / EAN-13 | 9781441995827 |