On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performanc... (Bog, Hardback, Engelsk)
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Elektronisk udstyr og materialer
  5. On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate...

On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond

(Bog, Hardback, Engelsk)
Forfatter: Andrej Rumiantsev
Forlag: River Publishers

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Elektronisk udstyr og materialer
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

This book presents solutions for accurate mm-wave characterization of advanced semiconductor devices. It guides through the process of development, implementation and verification of the in-situ calibration methods optimized for high-performance silicon technologies.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag River Publishers
Forfatter Andrej Rumiantsev
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgivelsesdato 31-07-2019
Første udgivelsesår 2019
Serie River Publishers Series in Electronic Materials and Devices
Originalsprog Denmark
Sideantal 278
Indbinding Hardback
Forlag River Publishers
Sideoplysninger 278 pages
Mål 234 x 156
ISBN-13 / EAN-13 9788770221122