Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces (Bog, Hardback, Engelsk) af V. Cherepin
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Spektralanalyse, spektrokemi,...
  5. Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces

Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces

(Bog, Hardback, Engelsk)
Forfatter: V. Cherepin
Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces
Forlag: Brill

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Spektralanalyse, spektrokemi, massespektrometri
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

This volume is devoted to the physics, instrumentation and analytical methods of secondary ion mass spectroscopy (SIMS) in relation to solid surfaces

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Brill
Forfatter V. Cherepin
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgivelsesdato 01-12-1987
Første udgivelsesår 1987
Fagredaktør Cherepin
Originalsprog Netherlands
Sideantal 138
Indbinding Hardback
Forlag Brill
Sideoplysninger 138 pages
Mål 234 x 156
ISBN-13 / EAN-13 9789067640787