Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques (Bog, Paperback / softback, Engelsk)
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Kybernetik og systemteori
  5. Elektronik: kredse og komponenter
  6. Elektronik teknik
  7. Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and...

Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques

(Bog, Paperback / softback, Engelsk)
Forfattere: Behnam Ghavami, Mohsen Raji
Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Forlag: Springer Nature Switzerland AG

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Elektronik: kredse og komponenter Elektronik teknik Kybernetik og systemteori
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Springer Nature Switzerland AG
Forfattere Behnam Ghavami, Mohsen Raji
Type Bog
Format Paperback / softback
Sprog Engelsk
Udgave 2021 ed.
Udgivelsesdato 14-10-2021
Første udgivelsesår 2021
Illustrationer 9 Illustrations, color; 30 Illustrations, black and white
Originalsprog Switzerland
Sideantal 114
Indbinding Paperback / softback
Forlag Springer Nature Switzerland AG
Sideoplysninger 114 pages, 9 Illustrations, color; 30 Illustrations, black and white
Mål 235 x 155
ISBN-13 / EAN-13 9783030516123