Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Bog, Hardback, Engelsk) af Chakrabarty Krishnendu
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Elektronik: kredse og komponenter
  5. Nanoteknologi
  6. Elektroteknik
  7. Miljøvidenskab, miljøteknik og miljøteknologi
  8. Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated...

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits

(Bog, Hardback, Engelsk)
Forfatter: Chakrabarty Krishnendu
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Forlag: Taylor & Francis Inc

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Elektronik: kredse og komponenter Elektroteknik Miljøvidenskab, miljøteknik og miljøteknologi Nanoteknologi
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Taylor & Francis Inc
Forfatter Chakrabarty Krishnendu
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgivelsesdato 25-10-2013
Første udgivelsesår 2013
Serie Devices, Circuits, and Systems
Illustrationer 90 Illustrations, black and white
Fagredaktør Sandeep K. Goel, Krishnendu Chakrabarty
Originalsprog United States
Sideantal 259
Indbinding Hardback
Forlag Taylor & Francis Inc
Sideoplysninger 259 pages, 90 Illustrations, black and white
Mål 238 x 175 x 22
ISBN-13 / EAN-13 9781439829417