VLSI Fault Modeling and Testing Techniques (Bog, Hardback, Engelsk) af George W. Zobrist
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Elektronik: kredse og komponenter
  5. 3D-grafik og modellering
  6. Informatik
  7. VLSI Fault Modeling and Testing Techniques

VLSI Fault Modeling and Testing Techniques

(Bog, Hardback, Engelsk)
Forfatter: George W. Zobrist
VLSI Fault Modeling and Testing Techniques
Forlag: Bloomsbury Publishing PLC

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

3D-grafik og modellering Elektronik: kredse og komponenter Informatik
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

This text explores VLSI fault modelling and testing techniques and covers such topics as: physical fault modelling and simulation for VSLI MOS circuits; designing CMOS gates to test open faults; testing bridging faults in VLSI; and testable design synthesis models.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Bloomsbury Publishing PLC
Forfatter George W. Zobrist
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgivelsesdato 01-05-1993
Første udgivelsesår 1993
Fagredaktør George W. Zobrist
Originalsprog United States
Sideantal 200
Indbinding Hardback
Forlag Bloomsbury Publishing Plc
Sideoplysninger 200 pages
ISBN-13 / EAN-13 9780893917814