Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies (Bog, Paperback / softback, Engelsk)
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Kybernetik og systemteori
  5. Elektronik: kredse og komponenter
  6. Elektroteknik
  7. Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in...

Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies

(Bog, Paperback / softback, Engelsk)
Forfattere: Antonio Manuel Lourenco Canelas, Jorge Manuel Correia Guilherme, Nuno Cavaco Gomes Horta
Forlag: Springer Nature Switzerland AG

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Elektronik: kredse og komponenter Elektroteknik Kybernetik og systemteori
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

This book presents a new methodology with reduced time impact to address the problem of analog integrated circuit (IC) yield estimation by means of Monte Carlo (MC) analysis, inside an optimization loop of a population-based algorithm.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Springer Nature Switzerland AG
Forfattere Antonio Manuel Lourenco Canelas, Jorge Manuel Correia Guilherme, Nuno Cavaco Gomes Horta
Type Bog
Format Paperback / softback
Sprog Engelsk
Udgave 2020 ed.
Udgivelsesdato 21-03-2021
Første udgivelsesår 2021
Illustrationer 97 Illustrations, color; 42 Illustrations, black and white; XXIII, 237 p. 139 illus., 97 illus. in color.
Originalsprog Switzerland
Sideantal 237
Indbinding Paperback / softback
Forlag Springer Nature Switzerland AG
Sideoplysninger 237 pages, 97 Illustrations, color; 42 Illustrations, black and white; XXIII, 237 p. 139 illus., 97
Mål 235 x 155
ISBN-13 / EAN-13 9783030415389