J. Doneker Forfatter

Visning: Type : Alle | Sprog : Alle | Format : Alle

• 

  PRIS

  5.215,- kr

  FRAGTFRI LEVERING

  Levering: Skaffevare (forvent 14 - 30 hverdage)

  Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

  Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997 (Bog, Hardback, Engelsk)

  Af: J. Doneker

  Presents an overview of techniques used to assess, monitor, and... Læs mere

  PRIS

  5.215,- kr

  FRAGTFRI LEVERING

  Levering: Skaffevare (forvent 14 - 30 hverdage)

  Læg i kurv