Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations
(Bog, Hardback, Engelsk)
- Type: Bog
- Format: Hardback
-
Sprog:
Engelsk
- ISBN-13: 9789814630344
- Se flere detaljer ▼
Formater og udgaver
Beskrivelse
The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution.
Læsernes anmeldelser (0)
Alle detaljer
| Forlag | World Scientific Publishing Co Pte Ltd |
| Forfatter | Ronald G (Purdue Univ Reifenberger |
| Type | Bog |
| Format | Hardback |
| Sprog | Engelsk |
| Udgivelsesdato | 12-11-2015 |
| Første udgivelsesår | 2015 |
| Serie | Lessons from Nanoscience: A Lecture Notes Series |
| Originalsprog | Singapore |
| Sideantal | 342 |
| Indbinding | Hardback |
| Forlag | World Scientific Publishing Co Pte Ltd |
| Sideoplysninger | 342 pages |
| Mål | 238 x 158 x 23 |
| ISBN-13 / EAN-13 | 9789814630344 |