1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Nanoteknologi
  5. Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

(Bog, Paperback / softback, Engelsk)
Forfatter: Ronald G (Purdue Univ Reifenberger
Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations
Forlag: World Scientific Publishing Co Pte Ltd

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Nanoteknologi
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag World Scientific Publishing Co Pte Ltd
Forfatter Ronald G (Purdue Univ Reifenberger
Type Bog
Format Paperback / softback
Sprog Engelsk
Udgivelsesdato 12-11-2015
Første udgivelsesår 2015
Serie Lessons from Nanoscience: A Lecture Notes Series
Originalsprog Singapore
Sideantal 342
Indbinding Paperback / softback
Forlag World Scientific Publishing Co Pte Ltd
Sideoplysninger 342 pages
Mål 155 x 229 x 19
ISBN-13 / EAN-13 9789814630351