Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Fai... (Bog, Hardback, Engelsk)
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Teknisk termodynamik
  5. Teknikkens pålidelighed, vedligeholdelse
  6. Elektronisk udstyr og materialer
  7. Influence of Temperature on Microelectronics and System...

Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach

(Bog, Hardback, Engelsk)
Forfattere: Pradeep (Auburn University Lall, Michael (University of Maryland Pecht, Edward B. Hakim
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Forlag: Taylor & Francis Inc

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Elektronisk udstyr og materialer Teknikkens pålidelighed, vedligeholdelse Teknisk termodynamik
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

This book provides a sound scientific basis for achieving system operation without reliability penalties at realistic steady state temperatures. guidelines for thermal derating of microelectronic devices.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Taylor & Francis Inc
Forfattere Pradeep (Auburn University Lall, Michael (University of Maryland Pecht, Edward B. Hakim
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgivelsesdato 24-04-1997
Første udgivelsesår 1997
Illustrationer 30 Tables, black and white
Originalsprog United States
Sideantal 328
Indbinding Hardback
Forlag Taylor & Francis Inc
Sideoplysninger 328 pages, 30 Tables, black and white
Mål 264 x 184 x 23
ISBN-13 / EAN-13 9780849394508