Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization (Bog, Paperback / softback, Engelsk)
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Elektronik: kredse og komponenter
  5. Dataarkitektur og logisk design
  6. Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling,...

Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization

(Bog, Paperback / softback, Engelsk)
Forfattere: Sheldon Tan, Mehdi Tahoori, Taeyoung Kim, Shengcheng Wang, Zeyu Sun, Saman Kiamehr
Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization
Forlag: Springer Nature Switzerland AG

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Dataarkitektur og logisk design Elektronik: kredse og komponenter
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Springer Nature Switzerland AG
Forfattere Sheldon Tan, Mehdi Tahoori, Taeyoung Kim, Shengcheng Wang, Zeyu Sun, Saman Kiamehr
Type Bog
Format Paperback / softback
Sprog Engelsk
Udgave 2019 ed.
Udgivelsesdato 25-09-2020
Første udgivelsesår 2020
Illustrationer 195 Illustrations, color; 16 Illustrations, black and white; XLI, 460 p. 211 illus., 195 illus. in color.
Originalsprog Switzerland
Sideantal 460
Indbinding Paperback / softback
Forlag Springer Nature Switzerland AG
Sideoplysninger 460 pages, 195 Illustrations, color; 16 Illustrations, black and white; XLI, 460 p. 211 illus., 195
Mål 235 x 155
ISBN-13 / EAN-13 9783030261740