1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Elektronik: kredse og komponenter
  5. Dataarkitektur og logisk design
  6. Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling,...

Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization

(Bog, Hardback, Engelsk)
Forfattere: Sheldon Tan, Mehdi Tahoori, Taeyoung Kim, Shengcheng Wang, Zeyu Sun, Saman Kiamehr
Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization
Forlag: Springer Nature Switzerland AG

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Dataarkitektur og logisk design Elektronik: kredse og komponenter
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Springer Nature Switzerland AG
Forfattere Sheldon Tan, Mehdi Tahoori, Taeyoung Kim, Shengcheng Wang, Zeyu Sun, Saman Kiamehr
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgave 2019 ed.
Udgivelsesdato 25-09-2019
Første udgivelsesår 2019
Illustrationer 195 Illustrations, color; 16 Illustrations, black and white
Originalsprog Switzerland
Sideantal 460
Indbinding Hardback
Forlag Springer Nature Switzerland AG
Sideoplysninger 460 pages, 195 Illustrations, color; 16 Illustrations, black and white
Mål 235 x 155
ISBN-13 / EAN-13 9783030261719