Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterizati... (Bog, Hardback, Engelsk) af Cor Claeys
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Materialeprøvning
  5. Elektronik: kredse og komponenter
  6. Elektronisk udstyr og materialer
  7. Mikrobølgeteknologi
  8. Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies:...

Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact

(Bog, Hardback, Engelsk)
Forfattere: Cor Claeys, Eddy Simoen
Forlag: Springer International Publishing AG

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Elektronik: kredse og komponenter Elektronisk udstyr og materialer Materialeprøvning Mikrobølgeteknologi
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

material science, defect engineering, device processing, defect and device characterization, and device physics and engineering.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Springer International Publishing AG
Forfattere Cor Claeys, Eddy Simoen
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgave 1st ed. 2018
Udgivelsesdato 22-08-2018
Første udgivelsesår 2018
Serie Springer Series in Materials Science
Illustrationer 207 Illustrations, color; 8 Illustrations, black and white; XXXIII, 438 p. 215 illus., 207 illus. in color.
Originalsprog Switzerland
Sideantal 438
Indbinding Hardback
Forlag Springer International Publishing AG
Sideoplysninger 438 pages, 207 Illustrations, color; 8 Illustrations, black and white; XXXIII, 438 p. 215 illus., 20
Mål 235 x 155
ISBN-13 / EAN-13 9783319939247