Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterizati... (Bog, Paperback / softback, Engelsk)
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Materialeprøvning
  5. Elektronik: kredse og komponenter
  6. Elektronisk udstyr og materialer
  7. Mikrobølgeteknologi
  8. Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies:...

Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact

(Bog, Paperback / softback, Engelsk)
Forfattere: Cor Claeys, Eddy Simoen
Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact
Forlag: Springer Nature Switzerland AG

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Elektronik: kredse og komponenter Elektronisk udstyr og materialer Materialeprøvning Mikrobølgeteknologi
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

material science, defect engineering, device processing, defect and device characterization, and device physics and engineering.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Springer Nature Switzerland AG
Forfattere Cor Claeys, Eddy Simoen
Type Bog
Format Paperback / softback
Sprog Engelsk
Udgave Softcover reprint of the original 1st ed. 2018
Udgivelsesdato 30-01-2019
Første udgivelsesår 2019
Serie Springer Series in Materials Science
Illustrationer 207 Illustrations, color; 8 Illustrations, black and white; XXXIII, 438 p. 215 illus., 207 illus. in color.
Originalsprog Switzerland
Sideantal 438
Indbinding Paperback / softback
Forlag Springer Nature Switzerland AG
Sideoplysninger 438 pages, 207 Illustrations, color; 8 Illustrations, black and white; XXXIII, 438 p. 215 illus., 20
Mål 235 x 155
ISBN-13 / EAN-13 9783030067472