Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems (Bog, Paperback / softback, Engelsk) af Santanu Chattopadhyay
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Elektronik: kredse og komponenter
  5. Elektroteknik
  6. Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems

Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems

(Bog, Paperback / softback, Engelsk)
Forfatter: Santanu Chattopadhyay
Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems
Forlag: Taylor & Francis Ltd

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Elektronik: kredse og komponenter Elektroteknik
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level. This book will be suitable for researchers working on power- and thermal-aware design and the testing of digital VLSI chips.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Taylor & Francis Ltd
Forfatter Santanu Chattopadhyay
Type Bog
Format Paperback / softback
Sprog Engelsk
Udgivelsesdato 30-06-2020
Første udgivelsesår 2020
Originalsprog United Kingdom
Sideantal 118
Indbinding Paperback / softback
Forlag Taylor & Francis Ltd
Sideoplysninger 118 pages
Mål 216 x 138
ISBN-13 / EAN-13 9780367607098