1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Elektronik: kredse og komponenter
  5. Elektroteknik
  6. Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems

Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems

(Bog, Hardback, Engelsk)
Forfatter: Santanu Chattopadhyay
Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems
Forlag: Taylor & Francis Inc

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Elektronik: kredse og komponenter Elektroteknik
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level. This book will be suitable for researchers working on power- and thermal-aware design and the testing of digital VLSI chips.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Taylor & Francis Inc
Forfatter Santanu Chattopadhyay
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgivelsesdato 25-04-2018
Første udgivelsesår 2018
Illustrationer 10 Illustrations, black and white
Originalsprog United States
Sideantal 118
Indbinding Hardback
Forlag Taylor & Francis Inc
Sideoplysninger 118 pages, 10 Illustrations, black and white
Mål 145 x 225 x 14
ISBN-13 / EAN-13 9780815378822