George W. Zobrist Forfatter

Visning: Type : Alle | Sprog : Engelsk | Format : Alle Der vises kun varer på engelsk

• 

  PRIS

  759,- kr

  FRAGT FRA 39,-

  Levering: Print on Demand (forvent 14 - 30 hverdage)

  Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

  VLSI Fault Modeling and Testing Techniques (Bog, Hardback, Engelsk)

  Af: George W. Zobrist

  This text explores VLSI fault modelling and testing techniques and covers such topics as: physical fault modelling and simulation for VSLI MOS circuits; designing CMOS gates to test open faults; testing bridging faults in VLSI; and testable design synthesis models.

  PRIS

  759,- kr

  FRAGT FRA 39,-

  Levering: Print on Demand (forvent 14 - 30 hverdage)

  Læg i kurv