Kurv Vare varer (tom)

Ingen varer

Fastlægges senere Forsendelse

0,- kr I alt

Kassen / rediger kurv

Varen er nu lagt i din kurv

Antal

I alt

Der er 0 varer i din kurv Der er 1 vare i din kurv

Varer i alt

Forsendelse i alt Fastlægges senere

I alt

Fortsæt indkøb

Ireneusz Mrozek Forfatter

Visning: Type : Alle | Sprog : Alle | Format : Hardback

Viser 1 - 1 af 1 resultat

PRIS

483,- kr

FRAGT FRA 35,-

Levering: Skaffevare (forvent 14 - 30 hverdage)

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults (Bog, Hardback, Engelsk)

Af: Ireneusz Mrozek

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.

PRIS

483,- kr

FRAGT FRA 35,-

Levering: Skaffevare (forvent 14 - 30 hverdage)

Læg i kurv

Viser 1 - 1 af 1 resultat