1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Elektronik: kredse og komponenter
  5. Dataarkitektur og logisk design
  6. Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults

(Bog, Hardback, Engelsk)
Forfatter: Ireneusz Mrozek
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Forlag: Springer International Publishing AG

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Dataarkitektur og logisk design Elektronik: kredse og komponenter
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Springer International Publishing AG
Forfatter Ireneusz Mrozek
Type Bog
Format Hardback
Sprog Engelsk
Udgave 1st ed. 2019
Udgivelsesdato 18-07-2018
Første udgivelsesår 2018
Illustrationer 34 Illustrations, black and white
Originalsprog Switzerland
Sideantal 135
Indbinding Hardback
Forlag Springer International Publishing AG
Sideoplysninger 135 pages, 34 Illustrations, black and white
Mål 235 x 155
ISBN-13 / EAN-13 9783319912035