Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults (Bog, Paperback / softback, Engelsk) af Ireneusz Mrozek
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Engelske bøger
  4. Elektronik: kredse og komponenter
  5. Elektronik teknik
  6. Dataarkitektur og logisk design
  7. Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults

(Bog, Paperback / softback, Engelsk)
Forfatter: Ireneusz Mrozek
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Forlag: Springer Nature Switzerland AG

Bemærk: Kan ikke leveres før jul.

Når du handler på WilliamDam.dk, betaler du den pris du ser.

  • Ingen gebyrer
  • Ingen abonnementer
  • Ingen bindingsperioder

Relaterede kategorier

Dataarkitektur og logisk design Elektronik: kredse og komponenter Elektronik teknik
  = Emner / kategorier
  = Sektioner / guides
  = Specialsider
  = Kampagner

Beskrivelse

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.

Læsernes anmeldelser (0)

Alle detaljer

Forlag Springer Nature Switzerland AG
Forfatter Ireneusz Mrozek
Type Bog
Format Paperback / softback
Sprog Engelsk
Udgave Softcover reprint of the original 1st ed. 2019
Udgivelsesdato 01-02-2019
Første udgivelsesår 2019
Illustrationer 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.
Originalsprog Switzerland
Sideantal 135
Indbinding Paperback / softback
Forlag Springer Nature Switzerland AG
Sideoplysninger 135 pages, 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.
Mål 235 x 155
ISBN-13 / EAN-13 9783030081980